2009年CTIA—IEEE1725电池认证迎来重大变更,涉及内置电池跌落测试升级、车载充电器ISO 7637-2测试要求、子系统删除与重新标示流程等8项核心条款。新规定设有过渡期,2009年9月底起强制施行,电芯、电池及主机制造商需提前准备合规。
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CTIA--IEEE1725认证之新变更内容

2009-06-23 12:08:30 栏目:关注安全
核心导读
文章脉络/关键词: CTIA认证、IEEE1725标准、电池跌落测试、车载充电器认证、子系统重新标示流程
内容摘要: 2009年CTIA—IEEE1725电池认证迎来重大变更,涉及内置电池跌落测试升级、车载充电器ISO 7637-2测试要求、子系统删除与重新标示流程等8项核心条款。新规定设有过渡期,2009年9月底起强制施行,电芯、电池及主机制造商需提前准备合规。
AI 深度解读
CTIA—IEEE1725认证自实施以来持续演进,2009年6月的季度工作组会议通过了多项技术性修订,反映出移动设备电池安全标准向更严苛方向发展的行业趋势。本次变更的核心背景在于:随着智能手机内置电池设计普及,传统1米跌落测试已无法覆盖实际使用场景中的风险,故将植入式电池跌落高度提升至1.5米且每个面测试6次;同时车载充电场景的电磁兼容性问题日益凸显,ISO 7637-2脉冲测试的强制纳入标志着认证范围从单一电池安全扩展至系统级电气安全。对于制造商而言,需在三个月过渡期内完成测试方法更新、供应商资质审核及CTIA数据库操作培训;特别值得注意的是重新标示子系统流程的简化设计,为品牌授权代工(OEM/ODM)模式提供了合规捷径。从行业意义观察,这些变更与同期AT&T等运营商推动IEEE1625笔记本电池认证的动向相呼应,预示CTIA正构建覆盖全品类移动终端的电池安全认证体系,中国制造商应密切关注标准国际化进程中的话语权变化。

    2009年6月9号至11号,每个季度一次的CTIA认证程序电池特别工作组会议在加拿大HALIFAX举行,摩尔实验室(MORLAB)再次全程参与了此次会议。此次会议上讨论并通过了多项关于CTIA—IEEE1725认证的修改或补充条款,此次通过的这些条款也将会有一个过渡期,可选择在6月底开始符合,但在2009年9月底将进入强制施行,即该日期之后要求必须完全符合新的变更要求。

    为使广大电芯、电池、适配器及主机制造商(或运营商)及时了解标准及认证流程变更,特将所变更的主要重点内容告知如下:

    1. 对于主机内的内置(植入式)电池,跌落测试的要求有明确性的提高。在主机(HOST)认证时,若是内置(植入式)电池,将会增加CRD 之5.48条款测试,该条款(1.5m高度跌落,每个面合计6次)比原主机跌落测试条款6.31(1m高度跌落,每个面一次)更为严格。

    2. 主机认证时主机制造商需要提交一份关于使用车载充电器的测试报告。测试报告显示符合ISO 7637-2 pulses 1,2a,2b,3a,3b和4。出具报告的实验室必须具有相应的ISO17025资质。

    3. 充电器申请将不必填写Vendor Site Name信息(SysDef-Adapter Recognition 第2行)。但Manufacturer Site Name信息仍必须体现。

    4. 新制定了子系统删除(撤消)流程。规定在特定原因下(如该子系统已不再上市销售、该子系统已不符合认证标准等)可删除(撤消)该子系统的认可信息。其中如果是由于子系统已不再符合认证标准,则CTIA将撤销(收回)该子系统的认可。

    5. 新制定了重新标示子系统认证(re-labeled subsystem)流程。即如果是在已经通过了认证的子系统基础上,仅更改了卖主名称或标签,这样的子系统认证流程是可以允许简化的。此情况下的认证流程为:仍需要在CTIA数据库上进行初始申请、输入重新标示后的卖主及产品信息、选择CATL(必须选择对原子系统进行评估的CATL,即与原子系统评估必须是同一个CATL)、CATL报告、附加文件,附加文件包括:由重新标示卖主所出具的产品一致性声明、由原子系统卖主所出具的授权使用声明。

    6.对于多型号名称子系统的界定。由于目前存在有一个认可的子系统里面可能含有多个型号名称,而系统卖主有时仅使用其中一个或非全部的型号名称,使流程及结果造成误解。现修正了规定如下:如果多个型号名称体现在一个子系统请求里面,则须是没有变化点会影响整个技术要求。

    7. 对于主机内的内置(植入式)适配器,将会在CTIA数据库上增加“Embedded Adapter”供主机申请者选择,之后由CATL来评估其适配器及主机的符合性。

    8. 对于包含符合OMTP microUSB条件充电器的系统,将把该充电器按照目前的充电器流程运作。

    关于DC/DC adapters 是否需要有NRTL证明,还是仅用相应的适当标准测试报告代替。此问题将在下次会议再做讨论和决定.

    CTIA—IEEE1725认证到今天已经施行了一段时间,其认证标准及认证流程仍在不断完善中,CTIA也定期(每季度一次)对相关的问题点召开工作组会议进行面对面的讨论与确认。若制造商与厂家认为其认证流程存在不合理、不完善之处或不适合的技术条款等,欢迎您直接联系摩尔实验室的相关工作人员进行沟通确认,摩尔实验室在评估认为可行性后会在下次的CTIA电池工作组会议上代为提出并讨论。

    另外在本次会议上,运营商AT&T和Verizon Wireless等提出希望未来开展IEEE1625(移动计算机用可充电电池标准)的认证,此内容将在下次的电池工作组会议上开会讨论认证标准及流程(CRD、PMD),目前初步确定整个认证程序将与IEEE1725认证程序模式相同。MORLAB从2008年底开始,已经开始着手对IEEE1625-2008标准进行分析,并对其进行整理分类,目前已对该标准进行了熟悉的了解,以期能对广大制造商提供协助。也欢迎广大客户针对IEEE1625认证方法与MORLAB进行沟通讨论。

    如需更多资料请发信到以下地址:Service@morlab.cn或致电:0755-86130268。

常见问题
Q: CTIA—IEEE1725认证的新变更何时开始强制施行?
A: 2009年6月底至9月底为过渡期,制造商可选择提前符合;2009年9月底之后所有新申请必须完全符合新变更要求,包括内置电池跌落测试升级、车载充电器ISO 7637-2测试报告等条款。
Q: 内置电池的主机跌落测试有哪些具体变化?
A: 原条款6.31要求1米高度每个面跌落1次,新条款CRD 5.48要求1.5米高度每个面合计跌落6次,测试严苛度显著提升,主要针对植入式电池设计的主机产品。
Q: 什么是子系统重新标示认证,如何简化流程?
A: 指在已通过认证的子系统基础上仅更改卖主名称或标签的情况。简化流程包括:CTIA数据库初始申请、选择原评估CATL、提交产品一致性声明及授权使用声明,无需重复完整测试。
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