CTIA IEEE1725认证趋势和CTIA IEEE1625认证的发展

    2011年3月份北美乃至世界范围内通信行业的重大新闻中，最引人关注的无疑是AT&T（美国运营商原排名第二位）宣布收购T-Mobile USA（美国运营商原排名第四位），从而使前者再次成为北美第一大移动运营商。众所周知，AT&T在美国运营商中，一直以来都是参与CTIA IEEE1725认证最坚决、最投入的运营商，这次其成为最大运营商，无疑会使CTIA IEEE1725认证的要求得到更大的加强。目前来看，美国原来排名前四位的移动运营商（Verizon  Wireless、AT&T、Sprint、T-Mobile）都已经在强制要求其产品通过CTIA IEEE1725的认证。在剩余的运营商中，大都在快速的导入强制要求通过此认证的计划。因此，通过CTIA IEEE1725认证已经从一个发展趋势转变到真正意义上成为进入北美市场的通行证，并且已经在世界范围内成为衡量产品品质优劣的一个风向标。

    在CTIA IEEE1725认证快速发展的同时，另一套针对锂电池系统的CTIA认证程序：CTIA IEEE1625（移动计算机用多电芯可充电电池标准）认证，也即将登台。目前CTIA电池工作组已经成功制定出CTIA IEEE1625的认证程序,并发布了R1.1版本认证测试标准。CTIA目前在升级数据库系统，预计从2011年4月份将开始正式接受IEEE1625认证申请，届时各运营商也将开始要求使用其网络的移动计算机系统强制通过CTIA IEEE1625认证。

    摩尔实验室（MORLAB）作为CTIA认可的测试实验室(CATL)，以及CTIA电池工作组成员，全程参与了CTIA IEEE1725以及IEEE 1625认证程序以及测试方法标准等的开发。目前摩尔实验室（MORLAB）新建立的CTIA IEEE1625测试实验室已经通过了ISO 17025体系的审核，已可正式开展CTIA IEEE1625标准的测试。

    同CTIA IEEE1725认证程序及标准类似，CTIA IEEE 1625不仅考虑电芯、电池自身的安全性能，同时也考虑了整个电池系统的安全要求。要求电芯、电池都需要满足各自的安全指标，另外也要求移动计算机、适配器等整个电池系统不能对电池或电芯施加恶劣条件或者在恶劣条件下须对电池电芯进行二级保护，而不能仅仅依靠电池或电芯本身的承受能力。

    为使广大电芯制造商、电池制造商、适配器制造商以及笔记本电脑等类似产品制造商及时了解认证程序的要求，摩尔实验室（MORLAB）后面将再分期介绍CITA IEEE1625的认证程序对电芯、电池、适配器及移动计算机的技术要求。本期介绍的主要是电芯方面的要求。

    电芯（CELL）的CTIA IEEE1625认证要求，同样要求必须先通过制造场地的实地审核，只有从已经通过审核的场地制造出来的电芯，才能申请型号认证。电芯制造场地的审核要求也将另行撰文介绍。

    电芯型号的认证由实验室样品测试、实验室审查设计制造文件、以及制造商声明等多部分组成。对于广大制造商最关心的样品测试方面，主要测试项目有电芯内部结构的拆解验证（包括极耳的绝缘、极耳的位置及尺寸、正负极片辅料量的余量等）、电芯防爆破裂压的测试验证、电芯热冲击、循环后电芯热冲击、高温短路等。

    在这些测试项目中，大都是比常规测试项目更高一层的要求，比如循环后电芯热冲击，测试方法要求使电芯在45℃温度条件下做100周充放电循环，循环结束后，充满电，从常温以5℃/min的速率热冲击到130℃，并在130℃保持1h。要求电芯不爆炸、不起火。这对于常规的使用新（fresh）电芯进行热冲击，要求更为严格，其目的是要求电芯在循环后也要有良好的热稳定性。

    鉴于篇幅所限，本文不能详细列出所有要求，若广大客户有此方面的咨询，可直接联系摩尔实验室（MORLAB）。另外，若制造商与厂家认为认证流程存在不合理、不完善之处或认为目前标准中有不合适的技术条款等，也欢迎您直接联系摩尔实验室的相关工作人员进行沟通确认。

    如需更多资料，请发信到以下地址：Service@morlab.cn或致电：0755-36698555。