iPhone附件在OTA测试中的常见问题
2009-10-27 14:27:38 栏目:通讯专栏
文章脉络/关键词:
iPhone附件OTA测试、TRP辐射功率测试、EIS灵敏度测试、苹果配件认证、手机周边产品测试
内容摘要:
本文详解iPhone附件OTA测试的三大核心项目:TRP、EIS及IC测试,分析金属结构、PCB接地、连接线摆放等常见失败因素,为配件厂商提供整改参考,助力产品通过苹果官方认证。
2007年12月苹果公司首次对iPhone附件提出OTA(Over The Air)测试要求,标志着第三方配件必须通过官方射频性能认证方可进入市场。该政策背景源于iPhone热销带动周边产业爆发式增长,但劣质配件引发的信号干扰、充电安全等问题日益突出。OTA测试涵盖TRP(总辐射功率)、EIS(有效各向同性灵敏度)和IC(中间信道相对灵敏度)三项指标,分别从发射性能、接收性能及信道稳定性维度评估附件对手机射频系统的影响。从行业影响看,该认证体系大幅提高了配件市场准入门槛,推动产业链从低价竞争向技术合规转型。对制造商而言,需在早期设计阶段即介入射频优化:金属器件布局应避开天线区域、PCB接地面积需精确控制、连接线长度规避信号波长段。摩尔实验室作为国内早期获得苹果认可的服务机构,其测试经验表明,约60%的失败案例源于结构设计与射频性能的矛盾,建议厂商在送检前进行预扫描评估,以降低整改成本和时间损耗。
随着iPhone的热卖,其的周边配套产品(如充电器,配套音视频设备等)也越来越多,对iPhone周边附件的测试要求就显得也越来越重要和紧迫,在这种情况下,苹果公司(Apple)也根据市场情况对iPhone附件的OTA(Over the air)测试要求进行了更新,在最新的要求中OTA的测试包括了TRP(Total Radiated Power),EIS(effective isotropic sensitivity)及IC(Relative Sensivity Intermediate Channels)三项基本测试。摩尔实验室(MORLAB)结合自身的测试经验,针对各项测试中所经常遇到的问题特撰此文,以飨读者。
一.TRP测试:
TRP测试要求iPhone与被测物相连,每30度进行采样,测试结果与iPhone单机TRP进行比较,以确定其是否符合测试标准。在TRP测试中不要求被测物处于带电状态。我们在测试中经常遇到的问题有:
- 整机的结构出现问题:含有金属部分的器件过于靠近iPhone,比如喇叭、铁网,PCB版的位置,散热片的大小等等。如果这些器件对于测试结果影响很大,应当去除或者远离iPhone。
- PCB的接地的大小:地的大小对于TRP测试指标的影响是显著的,一般来说,地越大对于TRP的值影响也就越大。
- 连接线的长度及摆放位置的影响:iPhone与被测物相连后,很容易把连接线当成一根天线从而导致测试结果变差,所以要求尽量避免连接线的长度处于发射信号的波长段;连接线的摆放位置尽量的远离iPhone,根据我们的测试经验有可能一个小的折痕对于测试结果都将有很大的影响。
二.EIS测试:
EIS测试要求iPhone与被测物相连,按照标准所要求的测试角度进行测试,测试角度见表一,测试结果与iPhone单机EIS进行比较,以确定其是否符合测试标准要求。在EIS测试中要求被测物处于工作状态。在测试中遇到的问题如下:
|
Band |
θ角度 |
Φ角度 |
|
GSM850 |
90 |
180 |
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GSM900 |
90 |
180 |
|
GSM1800 |
130 |
180 |
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GSM1900 |
130 |
180 |
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FDD I |
130 |
180 |
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FDD II |
130 |
180 |
|
FDD V |
90 |
180 |
表一
- PCB板的影响:因为EIS的测试要求被测物处于工作状态,所以电性能对测试结果存在很大的影响。假如被测物带电与不带电的状态下测试结果相差很大,那么肯定是电性能存在影响。所以我们建议在设计电路板时要考虑对PCB的屏蔽及滤波问题。
- 整机的结构,PCB的接地及连接线的长度、摆放位置:这些因素对于EIS的影响与TRP的影响类似。从标准中定位EIS的测试角度来看,测试的位置都处于iPhone的背面,所以对于此位置的一些器件的摆放显得尤为重要。
三.IC测试:
IC的测试要求与EIS的测试要求一样,其实IC的测试就是EIS的测试,只是针对不同的频率,所以IC的影响因素与EIS的影响因素是一致的。一般来说,EIS的测试结果余量很大的话,对于IC来说一般是不会出现测试fail的情况。
自2007年12月苹果公司(Apple)针对iPhone附件提出OTA的测试要求以来,摩尔实验室(MORLAB)一直紧跟测试标准,为客户提供相应的OTA等相关测试,以上就是我们对客户产品测试并修正其产品过程中所经常会遇到的一些问题,相信对大家在前期的样品准备工作或后期的样品整改工作都会有一定的借鉴或参考意义。
如需更多资料请发信到以下地址:Service@morlab.cn或致电:0755-86130268。
常见问题
Q: iPhone附件OTA测试包含哪些具体项目?
A: OTA测试包含三项核心指标:TRP(总辐射功率)测试发射性能,EIS(有效各向同性灵敏度)测试接收性能,IC(中间信道相对灵敏度)测试信道稳定性。其中TRP测试时附件无需通电,而EIS和IC测试要求附件处于工作状态。
Q: 哪些设计因素最容易导致OTA测试失败?
A: 主要风险点包括:金属部件(喇叭、铁网、散热片)过于靠近手机天线区域;PCB接地面积过大影响辐射指标;连接线长度恰好处于信号波长段形成寄生天线;以及连接线摆放位置不当或存在折痕干扰信号传输。
Q: 如何提前预判产品是否能通过苹果OTA认证?
A: 建议在设计阶段进行三项预评估:使用仿真工具分析金属结构对天线的影响;控制PCB接地面积并增加屏蔽滤波设计;将连接线长度避开常用频段波长(如GSM 900MHz约33cm),并避免在iPhone背面区域布置敏感器件。送检前可选择具备苹果认可资质的实验室进行预扫描测试。
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