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CDMA2000射频测试简介（一）
2009-02-24 17:41:08 栏目：通讯专栏
核心导读
文章脉络/关键词：
CDMA2000射频测试、传导杂散测试、3G终端认证、CE认证测试、射频输出功率测试
内容摘要：
本文介绍CDMA2000 3G终端的射频测试要求，重点讲解发射状态传导杂散测试的完整流程，包括测试意图、设备搭建、路径损耗测量、呼叫连接建立及频谱分段测试方法，适用于CE、CCC、CTA等认证准备。
AI 深度解读
CDMA2000作为3G移动通信标准之一，其终端产品进入全球市场需通过严格的强制性认证测试。本文聚焦发射状态传导杂散（Conducted spurious emissions when transmitting）这一关键测试项目，该指标直接影响设备电磁兼容性能与频谱使用合规性。测试需借助E5515C综测仪、频谱分析仪及功分器搭建专用系统，通过测量两条路径损耗、建立呼叫连接、设置功率控制模式等步骤完成。值得注意的是，测试需在'all up bits'最大功率模式和'0/1交替'两种功率控制状态下分别执行，确保覆盖实际工作场景。对于制造商而言，掌握该测试方法可有效缩短认证周期，降低整改成本；对测试工程师来说，路径损耗补偿与频谱分段设置是操作要点。随着5G演进，CDMA2000虽逐步退网，但其射频测试方法论仍对理解蜂窝通信认证体系具有参考价值。
CDMA2000是其中一种3G移动通信标准，其相关产品进入各国市场均需要进行强制测试。如进入欧盟或相关的地区，其需要满足CE的测试要求，比如中国国内需要做CCC和CTA认证. CDMA2000测试相当复杂,主要的如Conducted spurious emissions（transmitting/not transmitting）；Maximum RF output power；Minimum controlled output power等等。
下面简单介绍一下Conducted spurious emissions when transmitting（处于发射状态的传导杂散）的测试。
测试意图：在EUT工作的状态下，通过EUT上的天线连接器使用传导方式连接到测试系统上，检测EUT处于发射时的杂散信号。
测试搭建简图：
测试方法：
1） 用射频线按上图进行功分器（POWER SPLITTER）的连接，并使用信号源和频谱仪（Spectrum Analyzer）测量5515C到EUT和EUT到频谱仪这两条路径的损耗，然后记录损耗值。
2） 测量完损耗后按照简图将EUT与E5515C、频谱仪连接到功分器，把功分器衰减较大的一端接到频谱仪上。
3） 在E5515C上调整信道号和路径损耗的补偿，然后按照下列表格中的参数设置E5515C。
4） EUT与E5515C之间建立呼叫连接，然后将E5515C参数调到all up bits的功率控制模式，使EUT以最大功率输出。
5） 在频谱仪上设置好路径损耗的补偿，然后按照以下表格根据频率分段测试传导杂散，所测得的每段频谱的峰值功率必须低于以下表格标准规定的限值，并记录测得的数据。
6） 然后按照以下表格重新设置E5515C的参数。
7） EUT与E5515C重新建立呼叫连接，把E5515C参数设置为0和1交替的功率控制模式。
8） 按照以下表格重新设置频谱仪，根据频率分段测试传导杂散，所测得的每段频谱的峰值功率必须低于以下表格标准规定的限值，并记录测得的数据。
以上是对CDMA终端传导杂散测试的简单介绍, 此后我们将分批分期的对其它涉及CDMA部分的射频测试进行一一阐述, 敬请关注。
如需更多资料，请发信到以下地址：Service@morlab.cn或致电：0755－86130318。
常见问题
Q: CDMA2000终端进入中国市场需要做哪些认证测试？
A: CDMA2000终端在中国国内销售需完成CCC（中国强制性产品认证）和CTA（进网许可证）认证，若出口欧盟等地区还需满足CE测试要求。射频测试是认证的核心环节，包括传导杂散、最大/最小射频输出功率等多项指标。
Q: 传导杂散测试为什么要在两种功率控制模式下进行？
A: 测试需在'all up bits'最大功率模式和'0/1交替'功率控制模式下分别执行，目的是全面评估终端在不同发射功率状态下的杂散性能，确保其在实际网络环境中的各种功率控制场景均符合限值要求。
Q: 测试前为什么要先测量路径损耗并进行补偿？
A: 路径损耗测量是为了消除射频线缆、功分器等连接器件对测试结果的衰减影响。将损耗值输入E5515C和频谱仪进行补偿后，才能确保最终测得的杂散功率值为EUT端口的真实发射水平，保证测试数据的准确性。
