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手机类产品性能可靠性测试简介
2012-12-28 16:18:45 栏目：关注安全
核心导读
文章脉络/关键词：
手机可靠性测试、手机跌落测试标准、手机按键寿命测试、触摸屏点击寿命测试、手机插拔测试、滑盖翻盖寿命测试
内容摘要：
本文系统介绍手机类产品性能可靠性测试的核心项目，涵盖定向跌落、滚筒跌落、桌面微跌落、接口插拔、按键寿命、滑盖翻盖及触摸屏点击等七大测试类别，依据YD/T 1539-2006标准详解测试条件与合格指标，为手机研发与质量管控提供技术参考。
AI 深度解读
手机可靠性测试是消费电子行业质量体系的基石，源于早期功能机时代对机械耐久性的严苛要求。YD/T 1539-2006作为国内通信行业标准，将跌落测试细分为定向、滚筒、微跌落三种场景，分别对应意外冲击、运输损耗和日常反复搁放的真实使用情境。其中滚筒跌落100次、按键寿命10万次等量化指标，至今仍是厂商设计验证的基准线。随着全面屏和折叠屏技术演进，该标准框架持续影响着内部结构堆叠与材料选型策略。对于供应链企业，理解这些测试逻辑有助于前置风险管控；对于消费者，这些幕后数据直接决定了产品的实际使用寿命。当前行业趋势正将机械可靠性测试与软件压力测试融合，形成全生命周期的质量评估体系。
对于手机、手持平板机类通信或电子产品而言，性能可靠性是关系到终端用户体验的重大因素，因此对于手机类产品的性能可靠性进行测试评估就显得尤为重要。定向跌落、滚筒跌落（自由跌落）、桌面跌落（微跌落）、耳机/数据线/充电器插拔测试、手机按键寿命、滑盖/翻盖寿命、触摸屏点击寿命等测试项目是常见的手机类产品性能可靠性的评估项目。
本文主要以“移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法，YD/T 1539-2006”等标准为例，简单介绍手机类产品性能可靠性的测试要求。
一、定向跌落
定向跌落主要是用来评估手机类产品在使用过程中所承受跌落或冲击的能力。
试验条件一般将试验样品不包装，装上所配套的电池，不开机放置在高度为1.0m的平面上，让其跌落在混凝土表面上，每个面向下跌落各两次，6面共计12次。
移动通信手机在关机状态下应能够为1.0m处跌落在混凝土表面后，除容许表面有擦伤小凹坑外，功能、外观及装配应符合相关标准的要求。显示屏可见面积不小于机壳正面表面积40%或25cm2的移动通信手持池应能够在从高度为0.5m处跌落在表面后，除允许表面有擦伤、小凹坑外，功能、外观及装配应符合相关标准的要求。
二、滚筒跌落（自由跌落）
滚筒跌落测试主要是模拟终端用户在使用手机过程中意外掉落或手机在运输过程中的跌落。
主要测试方法及指标：将试验样品不包装，配上所配套的电池，放置在高度为（0.5±0.005），跌落过程中确保测试样品为自由跌落，不受设备旋转向心力影响，跌落平面为钢制的平滑刚性表面，钢板厚度不小于3mm。样品处于开机状态，保证电池盖固定牢固。跌落频率为10-12次/分钟，跌落次数为100次。
要求产品的外观、功能和装配均正常。
三、桌面跌落（微跌落）
桌面跌落模拟手机类产品在使用寿命过程中在搁放至桌面等处所承受的低水平的反复跌落。
主要测试方法及指标：可调跌落高度不低于10cm,实现对测试面的定向跌落。跌落地面为钢制的平滑刚性表面，每个面跌落200次，测试后要求产品外观、功能和装配正常。
四、耳机/数据线/充电器插拔测试
此测试手机的插拔接口，手机充电器，耳机 数据连接线等的插拔寿命.
条件试验：将样品固定在试验设备上，分别用配套的耳机 充电器 电池 手机卡进行反复插拔，频率每分钟10-20次。移动通信手持机与电池，充电器及耳机槽各经受1000次，手机卡进行100次的插拔试验后，功能外观及装配应符合相关标准的要求。
试验结束后，检查电池是否脱落并正常供电，耳机与充电器能正常工作，试验样品能正常。试验样品能正常拨打电话。
五、手机按键寿命
此测试是验证按键在试验过程中承受的力和次数的寿命。
主要测试方法及指标：将试验样品固定在测试设备上，用不小于0.6N的力按任意的一个键，按压的速率为40-60次/min，独立的开关键及侧键按压5万次，其余按键按压10万次。
要求移动通信手持机上独立的开关键及侧键寿命应达到5万次，其余按键的寿命都应达到使用10万次，功能、外观及装配应符合相关标准的要求。
六、滑盖/翻盖寿命
此测试是验证翻盖（滑盖）手机转轴的使用寿命。
主要测试方法及指标：将样品以关机状态固定在试验设备上，以25-36次/min的频率进行5万次翻盖（滑盖）。对可旋转翻盖，可先进行翻盖试验后再进行旋转试验，旋转频率为10-20次/min，旋转3000次。
要求移动通信手持机的翻盖（滑盖）寿命都应达到使用5万次，翻盖（滑盖）外观应无开裂破损，翻盖(滑盖)顺畅，功能、外观及装配应符合相关标准的要求。
七、触摸屏点击寿命
此测试模拟客户对触摸屏的常规使用，保证产品在使用寿命期限内不会因为触摸屏而导致电气性能的故障。
主要测试方法及指标：将样品开机固定在测试设备上，点击屏幕中心位置25万次，点击力量为250g+/-10% 点击速度 1-3秒，使用附带的手写笔沿触摸屏表框3mm内单步做直角划线测试，即单独划X轴直线，Y轴直线，对角线，一次组成直角三角形，每一步执行10万次。测试后样品触摸屏使用无影响。
深圳摩尔实验室（MORLAB）具有全套的手机、平板类产品性能可靠性测试设备，如定向跌落机、滚筒跌落机、桌面跌落机、插拔测试机、按键点击机、滑盖试验机、翻盖试验机、触摸屏点击试验机等。其中，大部分测试机（如插拔、微跌、定向跌落等设备）的适用范围广泛，不仅能测试传统的手机产品，更能测试尺寸大的平板产品（如iPad等）,可满足不同种类产品的性能可靠性测试需求。
摩尔实验室凭借检测行业多年的专业经验、优秀的技术团队和对技术提升的努力追求，秉承“专业，卓越，精准”的服务理念，一直以来始终站在测试技术领域的前沿，并长期关注广大客户的需求，我们可按各种标准，包括IEC、ISO等国际标准和国家标准（GB）、行业标准、企业标准、军用标准，以及客户的要求进行不同等级的可靠性试验。
如需更多资料，请发信到以下地址：Service@morlab.cn或致电：0755-36698555。
常见问题
Q: 手机定向跌落测试和滚筒跌落测试有什么区别？
A: 定向跌落测试主要评估手机承受特定方向冲击的能力，要求6个面各跌落2次共12次，高度1.0米；滚筒跌落测试则模拟随机跌落场景，样品在滚筒内自由翻滚跌落100次，频率为10-12次/分钟，更贴近运输和意外掉落的真实情况。两者测试目的和失效模式不同，需分别进行。
Q: 手机按键寿命测试的具体标准是什么？
A: 根据YD/T 1539-2006标准，按键测试需用不小于0.6N的力按压，速率为40-60次/分钟。其中独立开关键及侧键需通过5万次测试，其余按键需达到10万次。测试后要求按键功能正常、外观无破损、装配符合标准要求，确保产品整个生命周期内的操作可靠性。
Q: 滑盖手机和翻盖手机的转轴寿命需要测试多少次？
A: 滑盖/翻盖寿命测试要求以25-36次/分钟的频率进行5万次开合测试。对于可旋转翻盖机型，还需额外进行10-20次/分钟的旋转测试3000次。测试后要求转轴外观无开裂破损、开合顺畅，且整机功能、外观及装配均符合相关标准要求。
