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手机入网新增OTA测试要求

2008-08-25 17:54:11 栏目:通讯专栏

    2008年8月相关主管部门对手机的入网流程和入网项目均作了部分调整,其中比较引人注意的是在GSM和CDMA的入网认证的测试要求中增加了总辐射功率(TRP-Total Radiated Power)的相关内容(2009年1月1日起此项目正式成为入网判定项)。

    总辐射功率(TRP)和总接收灵敏度(TIS)均是OTA测试的基本指标之一。在以前的入网测试(CTA)中,射频性能测试主要是在电缆连接模式下进行的,至于手机整机的辐射发射和接收性能,在原入网测试中没有明确的规定, 而此次新增的OTA 测试正好弥补原来CTA测试的不足。同时,终端生产厂家必须对所生产手机的辐射性能有清楚的了解,并通过各种措施提高手机辐射的发射和接收指标。如果手机辐射性能不好,将产生手机信号不好、语音通话质量差、容易掉线等多方面的问题,这也是目前客户投诉比较多的问题。TPR的测试要求将对于降低掉话率、提高通话音质量、降低功耗和延长待机时间具有深远的意义,其将直接关系到普通用户的切身利益 。

    摩尔实验室(MORLAB)于2007年所引进的SATIMO SG24系统是第三代3D天线及OTA测试系统,它采用多探头测量方案,为目前最先进的OTA测试方法,有重复性高,准确度高,解析度高等优点。也是全球少数能完全符合CTIA要求的测试系统。能按照CTIA或入网要求完成相关的TRP/TIS部分测试。测试能力涵盖了:CTIA OTA,天线3D场型测量,增益,天线效率,方向图,极化性能等指标。

    TRP实测样本如图所示:

GSM终端TRP实测样本

CDMA终端TRP实测样本

OTA测试实景图

    MORLAB的OTA实验室自成立以来已完成了大量手机终端,数据卡,IPHONE及其附件,无源天线等产品的测试案例,积累了丰富的OTA测试及整改经验,也是目前南方地区唯一能提供OTA测试服务的第三方实验室。我们相信基于摩尔实验室在OTA领域的丰富经验,将更好的帮助我们的客户满足中国手机入网及CTIA对OTA部分的测试要求。

    如需更多资料,请发信到以下地址:Service@morlab.cn或致电:0755-86130318。

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